發(fā)布日期: 2025-06-16 10:31:33
點(diǎn)擊：34
在絕緣電阻測(cè)試時(shí)，在某些場(chǎng)合用戶(hù)需自設(shè)定儀表的測(cè)量參數(shù)，以滿(mǎn)足絕緣性能測(cè)試的要求。例如ETCR3520高壓絕緣電阻測(cè)試儀提供了自設(shè)定：輸出電壓、測(cè)試時(shí)間、計(jì)算公式等多種測(cè)量參數(shù)，下面介紹自設(shè)定方法：
1、輸出電壓和測(cè)試時(shí)間自設(shè)定：
設(shè)定方法：將儀表的檔位旋轉(zhuǎn)到VS檔，進(jìn)入自設(shè)定界面，+ - 通過(guò)觸摸電壓顯示窗口兩側(cè)的 符號(hào)，選擇修改輸出電壓參數(shù)，設(shè)定范圍：50V～5000V，通過(guò)觸摸時(shí)間顯示窗口兩側(cè)的 + - 符號(hào)選擇修改測(cè)試時(shí)間參數(shù)，設(shè)定范圍：1min～30min。
2、吸收比、極化指數(shù)，介質(zhì)放電指數(shù)計(jì)算公式選擇：
選擇方法：按下設(shè)置按鈕，進(jìn)入計(jì)算公式選擇界面，觸摸公式前的小方框即可選定計(jì)算公式。
極化指數(shù)（PI）測(cè)量
極化指數(shù)是指測(cè)試10分鐘內(nèi)的絕緣電阻與1分鐘內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。極化指數(shù)測(cè)試耗時(shí)10分鐘。當(dāng)絕緣測(cè)試時(shí)間為10分鐘或更長(zhǎng)時(shí)，極化測(cè)試將完成并保存。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，也可自選PI計(jì)算公式。
極化指數(shù)（PI） | ＞4 | 4～2 | 2.0～1.0 | ＜1.0 |
絕緣狀況 | 很好 | 良好 | 存在問(wèn)題 | 不良 |
吸收比（DAR）測(cè)量
吸收比是指測(cè)試1分鐘內(nèi)的絕緣電阻與15秒內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。吸收比測(cè)試需要1分鐘完成。因此，對(duì)于所有小于1分鐘的絕緣測(cè)試，測(cè)量數(shù)據(jù)將被存儲(chǔ)為無(wú)效數(shù)據(jù)。當(dāng)絕緣測(cè)試時(shí)間為1分鐘或更長(zhǎng)時(shí)，吸收比保存在測(cè)試結(jié)果中。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，也可自選DAR計(jì)算公式。
吸收比（DAR） | ＞1.4 | 1.25～1.0 | ＜1.0 |
絕緣狀況 | 很好 | 良好 | 不良 |
介質(zhì)放電指數(shù)測(cè)試(DD)；
此試驗(yàn)適用于多層絕緣的診斷。是通過(guò)測(cè)定測(cè)試完成1分鐘后的放電電流值及被測(cè)物的電容值來(lái)判斷多層絕緣物體中的不良情況的好方法。一般建議500V電壓充電30分鐘，測(cè)量其電容及1分鐘后的殘余電流。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，可自選DD計(jì)算公式。
DD值判定標(biāo)準(zhǔn) | ＜2.0良好 | 2.0~4.0要注意 | 4.0~7.0不良 | ＞7.0較差 |
銥電測(cè)控專(zhuān)注于高壓絕緣電阻測(cè)試儀的研發(fā)生產(chǎn)，是ETCR3500，ETCR3520，5KV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3500B，ETCR3520B，10kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3520C，15kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3580絕緣電阻在線(xiàn)測(cè)試儀的生產(chǎn)廠(chǎng)家，銥電測(cè)控服務(wù)熱線(xiàn)：400-068-0006，了解更多請(qǐng)?jiān)L問(wèn)銥電測(cè)控官網(wǎng)：www.6686q.com
友情鏈接
