發布日期: 2025-06-03 15:41:51
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通常的高壓絕緣電阻測試儀只能測量絕緣電阻測試（IR）；極化指數測試（PI）；吸收比測試（DAR）。ETCR3520系列高壓絕緣電阻測試儀除此以外，還能測量步進測試（STEP）；斜坡測試（RAMP）；介質放電指數測試(DD)，以滿足用戶全面測量試件絕緣性能的要求。
1.步進測試（STEP）；
步進測試模式也是一個自動化的測試過程。測試開始后，輸出電壓按選定檔位電壓的10%逐步升高，儀器記錄每步的絕緣阻值。絕緣體有缺陷時，隨施加電壓的升高會出現電阻值下降的現象。絕緣體無缺陷時，在升壓過程中絕緣電阻基本保持不變。
2.斜坡測試（RAMP）；
斜坡測試模式是一個自動化的測試過程。測試開始后輸出電壓逐漸升高至所選檔位電壓，儀器記錄升壓過程中每一秒的絕緣阻值。絕緣體有缺陷時，隨施加電壓的上升和時間的增加，會出現電阻值下降的現象;絕緣體無缺陷時，在升壓過程中絕緣電阻基本保持不變。
3.介質放電指數測試(DD)；
此試驗適用于多層絕緣的診斷。是通過測定測試完成1分鐘后的放電電流值及被測物的電容值來判斷多層絕緣物體中的不良情況的好方法。一般建議500V電壓充電30分鐘，測量其電容及1分鐘后的殘余電流。在設置測量模式時，可自選DD計算公式。
DD值判定標準 | ＜2.0良好 | 2.0~4.0要注意 | 4.0~7.0不良 | ＞7.0較差 |
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