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        通常的高壓絕緣電阻測(cè)試儀只能測(cè)量絕緣電阻測(cè)試（IR）；極化指數(shù)測(cè)試（PI）；吸收比測(cè)試（DAR）。ETCR3520系列高壓絕緣電阻測(cè)試儀除此以外，還能測(cè)量步進(jìn)測(cè)試（STEP）；斜坡測(cè)試（RAMP）；介質(zhì)放電指數(shù)測(cè)試(DD)，以滿足用戶全面測(cè)量試件絕緣性能的要求。

        1.步進(jìn)測(cè)試（STEP）；

        步進(jìn)測(cè)試模式也是一個(gè)自動(dòng)化的測(cè)試過(guò)程。測(cè)試開(kāi)始后，輸出電壓按選定檔位電壓的10%逐步升高，儀器記錄每步的絕緣阻值。絕緣體有缺陷時(shí)，隨施加電壓的升高會(huì)出現(xiàn)電阻值下降的現(xiàn)象。絕緣體無(wú)缺陷時(shí)，在升壓過(guò)程中絕緣電阻基本保持不變。

        2.斜坡測(cè)試（RAMP）；

        斜坡測(cè)試模式是一個(gè)自動(dòng)化的測(cè)試過(guò)程。測(cè)試開(kāi)始后輸出電壓逐漸升高至所選檔位電壓，儀器記錄升壓過(guò)程中每一秒的絕緣阻值。絕緣體有缺陷時(shí)，隨施加電壓的上升和時(shí)間的增加，會(huì)出現(xiàn)電阻值下降的現(xiàn)象;絕緣體無(wú)缺陷時(shí)，在升壓過(guò)程中絕緣電阻基本保持不變。

        3.介質(zhì)放電指數(shù)測(cè)試(DD)；

        此試驗(yàn)適用于多層絕緣的診斷。是通過(guò)測(cè)定測(cè)試完成1分鐘后的放電電流值及被測(cè)物的電容值來(lái)判斷多層絕緣物體中的不良情況的好方法。一般建議500V電壓充電30分鐘，測(cè)量其電容及1分鐘后的殘余電流。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，可自選DD計(jì)算公式。

        銥電測(cè)控專注于高壓絕緣電阻測(cè)試儀的研發(fā)生產(chǎn)，是ETCR3500，ETCR3520，5KV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3500B，ETCR3520B，10kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3520C，15kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，ETCR3580絕緣電阻在線測(cè)試儀的生產(chǎn)廠家，銥電測(cè)控服務(wù)熱線：400-068-0006，了解更多請(qǐng)?jiān)L問(wèn)銥電測(cè)控官網(wǎng)：www.6686q.com